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X射线荧光光谱仪早期照射面积需20毫米以上

发布时间:2020-04-24 09:01:10         点击:3794

       在X射线荧光光谱仪出现后其迅速在各种科研和工业领域得到了广泛的应用。在其发展前期,主要还是应用基本的,随着科技的发展,在一些精度要求较高的领域,例如半导体行业衬底表面的超薄贵金属镀层的检测,痕量贵金属元素的检测等,传统的X射线荧光光谱仪已不能满足人们的需求

X射线荧光光谱仪早期照射面积需20毫米以上

X射线荧光光谱仪早期照射面积需20毫米以上

       为了解决这一问题,20世纪70年代出现了针对痕量贵金属检测的偏振XRF(US3944822)和全反射式XRF (DE2727505 AD)C使用偏振XRF分析样品可显著降低康普顿和相干散射信号。全反射XRF可以大大降低本来对痕量分析不利的X射线背景。DE2727505 A1中公开的全反射XRF能够检测硅衬底上的超薄金属镀层。

       20世纪90年代随着人们生活水平的不断提高,各种贵金属产品(例如首饰,珠宝,黄金)的消费需求也逐年增长,与此同时,人们对贵金属产品的质量也越来越关注。此时,市面上已经出现了一X射线荧光光谱仪但是上述市场上出售的X射线荧光光谱仪要求被分析的样品应具有平坦而均匀的被照射面积才能获得可靠而精确的结果。这些光谱仪的照射面积比较大(一般直径20毫米以上),然而,很多贵金属产品,例如金银项链,铂金钻戒等都比较精致,形状结构复杂,有的还镶嵌珠宝或其他合金,因此,使用这类X射线荧光光谱仪难以对首饰等贵金属产品进行可靠的分析

 

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